雷（léi）達（dá）液位計信號（hào）異常的幹擾（rǎo）因（yīn）素

    雷（léi）達液位計 是（shì）通（tōng）過向被測介質發射電磁波，發射後的電磁波遇到介質被反射回來，通過時間擴展技術原理，計算出電磁波（bō）發射和接（jiē）收的時間間隔，從而（ér）進一（yī）步推算出天線（xiàn）到被測介質表麵的距（jù）離（lí）。可見，雷達（dá）液（yè）位計（jì）能否順利發（fā）射出電信（xìn）號對於液位（wèi）測量就顯得頗為關鍵。但在我們日常工作中（zhōng），信號被幹擾的現象時有（yǒu）發生。那麽（me），導致雷達液位計信號異常的幹擾因素都有哪些呢？

    通過對導（dǎo）致雷達（dá）液位（wèi）計的信號異常的因素（sù）進（jìn）行分析（xī）發現，產生幹擾的原因有很多，幹擾源也多種多樣。但總體而言可以分為兩（liǎng）類（lèi）：一類是內部幹擾，另一類是外部（bù）幹擾。

    一、外部（bù）幹擾（rǎo）

    1、天體、天電幹擾

    天體就是指太陽或是其他的恒星，因此天體幹擾指的就是它們發出的（de）電磁波對雷達液位計發出的信號產生了一定的幹擾。

    但對於天電這（zhè）個術語，大家普遍（biàn）感到陌生。其實，所謂天電，可以將其理解為由大氣、雷電等電離作（zuò）用，或是火山、地震等自然現象產生的電磁波對雷達液位計的信號產生的幹擾。

    2、光幹擾

    光的幹擾主要在（zài）於半導體部件。在用來控製儀表的部件當中，多由半導體材料製（zhì）成，而半導體元件在受到光的影響後，其導電（diàn）性能就會改變（biàn），這樣一來，就會（huì）影響雷（léi）達液位（wèi）計的正常使用。

    3、熱幹擾

    火電廠作業過程（chéng）中，其（qí）熱力設備（bèi）會產（chǎn）生大量的熱量，這些熱量會引（yǐn）起周圍（wéi）儀器以及環境溫度的變（biàn）化，這也就是我們所說的熱幹擾（rǎo）。這些幹擾會對（duì）雷達液位計的元件（jiàn）產生影響，進一步導致測量不精確等問題的出現。

    4、濕度幹擾

    當（dāng）濕度升（shēng）高，就會引起絕（jué）緣體電阻下降、電（diàn）介質介（jiè）電（diàn）數增加、骨架蓬鬆、電阻增加，進（jìn）而也就（jiù）產生漏（lòu）電（diàn）流增（zēng）加、電容量增加、電（diàn）感器變化等（děng）。此外（wài）還會使膠質變軟（ruǎn），測量精也會下降。

    5、機（jī）械幹擾

    所（suǒ）謂機械幹（gàn）擾，是指由於（yú）外部機器的大幅震動或衝擊，影響到雷達液位計，使雷達液位計內（nèi）部的一些元（yuán）件同樣發（fā）生震動甚至是移位、變形，也可能使（shǐ）儀表頭指針鬆動，使測量（liàng）產生誤差（chà），對於這種情況我們（men）通常（cháng）加以隔板、減震彈簧等來緩解衝擊。

    6、化學幹擾

    化學幹擾通常是指一些具有（yǒu）腐蝕性的氣體，例（lì）如（rú）酸、堿等（děng），這些氣體長時（shí）間的作用，不僅僅會損壞儀器及內部元件，還會與（yǔ）金屬作用導電，影響雷（léi）達液（yè）位計的正（zhèng）常工作。

    二（èr）、內部（bù）幹擾

    幹（gàn）擾不僅僅來自於外部，也來自於雷達液位計內（nèi）部。例如其中的導線、電（diàn）源變壓器電子元件之間的電感、電容等所產生的幹（gàn）擾，此（cǐ）外，內部元件還會產生噪聲幹擾。如今，大部分的雷達液位計經改進後，由於采用了高（gāo）頻率微（wēi）波技術，使液位計的性能大為改善，幹擾也隨之降（jiàng）低。